考查目标

1. 掌握模拟电子技术的基本概念、原理、方法与应用，能够应用其分析、设计和解决模拟电子技术领域相关工程问题；

2. 掌握自动控制原理的相关概念、基本原理、分析方法和应用，能够运用专业知识和数学模型方法对自动控制系统相关复杂工程问题进行推演、分析和计算；

3. 理解和掌握数据结构中的基本概念和相关术语，掌握线性表、栈、队列、树和二叉树、图等数据结构的逻辑特性、存储表示、各种操作算法及应用；

4．掌握数据结构中常见的排序和查找算法，并能进行算法的时间复杂度和空间复杂度的分析。

考试形式

闭卷笔试，考试时间为120分钟。

试卷结构及题型

选择题：10题，每题3分，合计30分；

简答题：6题，每题5分，合计30分；

综合题：2题，每题20分，合计40分。

满分：100分。

注：综合题分为模拟电子技术、自动控制原理和数据结构三个模块，每个模块40分，考生仅限选择一个模块作答，非所选模块作答内容均不得分。

考查知识要点

1. 模拟电子技术

（1）晶体二极管和三极管

半导体二极管和三极管的基本原理，半导体二极管应用电路分析；双极型晶体三极管共射放大电路的静态工作点与动态参数计算。

（2）集成运算放大器

模拟集成运算放大电路组成；“虚短”、“虚断”的概念和应用法则；理想运放组成的线性运算电路分析。

（3）负反馈放大器和信号产生电路

反馈的基本概念和反馈类型的判断；深度负反馈条件下放大电路的分析；负反馈对放大电路的影响；文氏振荡器的工作原理；方波和三角波产生电路。

2. 自动控制原理

（1）控制系统的数学模型

自动控制系统传递函数概念与性质；拉普拉斯变换及其反变换；线性定常微分方程求解；系统结构图的绘制和等效变换；信号流图的绘制和计算。

（2）线性系统的时域分析法

线性系统时域性能指标识别与计算；一阶、二阶系统时域分析；线性系统稳定性分析和稳态误差计算。

（3）线性系统的根轨迹法

根轨迹的相关概念；常规根轨迹的绘制法则；常规根轨迹的绘制方法；参数根轨迹和零度根轨迹。

（4）线性系统的频域分析法与校正方法

频率特性的相关概念；典型环节的频率特性的分析和表达；对数幅频特性渐近曲线（Bode图）的绘制；幅值裕度和相角裕度的计算；系统需采用何种校正方法进行校正判断。

3. 数据结构

（1）基本概念和相关术语

数据、数据元素、数据对象、数据结构、存储结构和数据类型的概念和术语的含义；算法的确切含义和特性；算法设计的基本要求以及估算算法时间复杂度的方法。

（2）线性表、栈和队列

线性表的逻辑结构；线性表的顺序存储结构和链式存储结构的描述及常用操作的算法描述；线性表的应用；栈的定义、栈的顺序存储和链式存储的表示和实现、栈的应用；队列的定义、队列的顺序存储(循环队列)和链式存储的表示和实现。

（3）树和二叉树

树的定义、术语及其存储结构；二叉树的定义、性质及其存储结构，二叉树的遍历；哈夫曼树与哈夫曼编码。

（4）图

图的定义和术语，图的存储结构，图的深度和广度优先搜索；拓扑排序；最短路径；最小生成树；关键路径。

（5）查找和排序

静态查找（顺序查找、二分查找、分块查找和索引查找）；动态查找（二叉排序）；哈希表查找；插入排序、选择排序、交换排序、归并排序、基数排序的排序过程。

考试用具说明

无